高度加速寿命試験装置に大型基板対応モデルをラインアップ 一度の試験で大量の試料を評価、電子部品等の開発期間短縮と信頼性確保に貢献
エスペック株式会社
AI半導体・自動運転分野の試験需要に対応
エスペック株式会社（本社：大阪市北区、代表取締役 執行役員社長：荒田知 ）は、2025 年10月、高度加速寿命試験装置(HAST CHAMBER)に、大型基板の試験に対応したモデル（EHS-222M-L）をラインアップしました。これにより一度の試験で大量の試料を評価することが可能となり、電子部品等の開発期間短縮と高信頼性の確保に貢献します。
高度加速寿命試験装置は、高温・高湿・圧力の3つのストレスを同時に試料へ与えることで、電子部品等の寿命や故障モードなどの信頼性を短期間で評価するためのものです。近年、生成AIやデータセンター、自動運転など先端技術分野で用いられる電子部品等は小型化や高性能化が進んでおり、開発期間短縮のため加速試験の需要が高まっています。さらに、高信頼性を確保するためには統計的に有意なデータ、つまり大量のデータを取得する必要があることから、より多くの試料を搭載し評価できる大型基板の試験需要も増加しています。
このような試験需要にお応えするため、当社は高度加速寿命試験装置に、従来機種よりも奥行を200mm拡大した大型基板対応モデル（EHS-222M- L）を追加しました。また、試料に電圧や信号を印加するための端子を従来の2倍に増加することで、一度の試験あたりの試料数を増やすことができ、試験効率の向上や開発期間の短縮に寄与します。さらに、端子数や通電試験に必要な治具はニーズに応じて柔軟にカスタマイズすることができます。豊富なノウハウにより最適な試験環境を提案することで、電子部品等の高信頼性の確保に貢献します。
当社は今後も、AIや自動運転など先端技術分野の課題解決に貢献する製品ラインアップの拡充に取り組んでまいります。
[画像:
https://prcdn.freetls.fastly.net/release_image/135286/18/135286-18-941b87ffa281cd9bd42acc4cffa95ada-3900x2925.jpg?width=536&quality=85%2C75&format=jpeg&auto=webp&fit=bounds&bg-color=fff ]
高度加速寿命試験装置(HAST CHAMBER) EHS-222M-L
■ 高度加速寿命試験装置(HAST CHAMBER) 大型基板対応モデルEHS-222M-L
＜特長＞
１．奥行拡大、対応可能端子数増加により、1試験で大量の試料を評価可能、試験効率を向上
従来機種 内寸394mm×426mmに対し、394mm×626mmと奥行を200mm拡大し、大型基板
（例：290mm×460mm、220mm×470mm）の試験や複数治具の搭載が可能です。また、試料に
電圧や信号を印加するための端子を従来機種1000V36pin（付加仕様対応60pin）から1000V120pinに拡大し、試験効率の向上や開発期間の短縮に貢献します。
２． 端子数の増減や治具はカスタマイズ可能、最適な試験環境を提供
端子数の増減や治具はニーズに応じて柔軟にカスタマイズ可能です。 部材の選定や構造
設計など治具製作の豊富な実績とノウハウにより、最適な試験環境を提供します。
３．コネクタブロックの採用により作業効率アップ
コネクタブロックの採用により、面倒なはんだ付け作業や端子番号確認の作業がなくなり、
配線作業が簡易化します。
＜主な仕様＞
[表:
https://prtimes.jp/data/corp/135286/table/18_1_496f87e595834fa2f0bd79dbc1a27958.jpg?v=202511061216 ]
製品ページはこちら：
＞
高度加速寿命試験装置(HAST CHAMBER)
＜本リリースに関するお問い合わせ＞
サステナビリティ推進部 IR・広報グループ
TEL：06-6358-4744 FAX：06-6358-4795 E-MAIL：ir-div@espec.jp
プレスリリース提供：PR TIMES
記事提供：PRTimes
