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ミツトヨがエレクトロテスト ジャパンに出展

株式会社ミツトヨ

ミツトヨがエレクトロテスト ジャパンに出展


株式会社ミツトヨ(本社:川崎市高津区、代表取締役社長:沼田 恵明)は、2026年1月21日(水)から1月23日(金)まで、東京ビッグサイトにて開催される展示会「第40回エレクトロテスト ジャパン」に出展し測定機のソリューションなどを紹介します。
[画像1: https://prcdn.freetls.fastly.net/release_image/114528/32/114528-32-8cf5df8fffea1f442780255e34c0ff50-2103x1500.jpg?width=536&quality=85%2C75&format=jpeg&auto=webp&fit=bounds&bg-color=fff ]


エレクトロテスト ジャパンはRX Japan株式会社が主催するエレクトロニクス製品の検査・試験・測定をメインとした展示会です。ミツトヨブースでは『高度化する“はかる” に挑む 画像測定のミツトヨ』をコンセプトに掲げ電子・電気・半導体製品の生産性向上を実現する各種ソリューションを紹介します。
ご来場の際には、事前に主催者ホームページより来場事前登録(登録無料)をお願いいたします。エレクトロテスト ジャパンはRX Japan株式会社が主催するエレクトロニクス製品の検査・試験・測定をメインとした展示会です。ミツトヨブースでは『高度化する“はかる” に挑む 画像測定のミツトヨ』をコンセプトに掲げ電子・電気・半導体製品の生産性向上を実現する各種ソリューションを紹介します。
ご来場の際には、事前に主催者ホームページより来場事前登録(登録無料)をお願いいたします。

●開催概要

[表: https://prtimes.jp/data/corp/114528/table/32_1_e27b093e74a17238d625d7beea2bd508.jpg?v=202601071115 ]

●出展製品

非接触3D 計測システム クイックビジョンWLI Proシリーズ白色光干渉による微細形状、表面性状評価をご提案いたします。


[画像2: https://prcdn.freetls.fastly.net/release_image/114528/32/114528-32-c3981e07c93946c878838702b8511976-1057x704.jpg?width=536&quality=85%2C75&format=jpeg&auto=webp&fit=bounds&bg-color=fff ]
クイックビジョンWLI Pro


CNC 画像測定機 クイックビジョンProシリーズハイスループット測定による測定効率の向上をご提案いたします。


[画像3: https://prcdn.freetls.fastly.net/release_image/114528/32/114528-32-4bd3bc8353bea6f776f0612abbf183a4-500x385.jpg?width=536&quality=85%2C75&format=jpeg&auto=webp&fit=bounds&bg-color=fff ]
クイックビジョン Pro

白色光干渉光学ユニット WLI-Unit
白色干渉測定用対物レンズWLI Plan Apoシリーズ白色光干渉による3D 形状測定を手軽に導入いただけるご提案をいたします。


[画像4: https://prcdn.freetls.fastly.net/release_image/114528/32/114528-32-99a29b12acfaedf07de62ee64550c6fa-2737x1940.png?width=536&quality=85%2C75&format=jpeg&auto=webp&fit=bounds&bg-color=fff ]
WLI-Unit 

装置組込顕微鏡ユニット VMUシリーズ
様々な観察法に対応するラインアップからアプリケーション例をご提案します。
焦点距離可変レンズ TAGLENS全焦点撮影を可能にしたTAGLENSに赤外線
対応の顕微鏡システムを組み合わせ透過
観察をご提案いたします。


[画像5: https://prcdn.freetls.fastly.net/release_image/114528/32/114528-32-ff16214921c65ba2551d898432e4d2b8-3900x3120.jpg?width=536&quality=85%2C75&format=jpeg&auto=webp&fit=bounds&bg-color=fff ]
VMU-T1 + TAGLENS-T1


※このニュースリリースの内容は発表時点の情報になります。最新の情報と異なる場合がございますのでご了承ください。

プレスリリース提供:PR TIMES

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