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タカノ、12月17日から19日に開催される「SEMICON Japan 2025」に新装置を出展

タカノ株式会社

タカノ、12月17日から19日に開催される「SEMICON Japa

~次世代パッケージ基板の品質管理へ、微細バンプ検査の高スループット化で貢献~


[画像1: https://prcdn.freetls.fastly.net/release_image/49013/140/49013-140-07219231416d7d4890010a5e17ae75c6-3508x2480.jpg?width=536&quality=85%2C75&format=jpeg&auto=webp&fit=bounds&bg-color=fff ]
SEMICON Japan 2025ブースイメージ

タカノ株式会社(本社:長野県上伊那郡宮田村、代表取締役社長:鷹野 雅央)は、2025年12月17日(水)~19日(金)に東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan 2025」に出展いたします。

今回の出展では、デバイスメーカー、装置メーカー、材料メーカー、ウェーハメーカーなどに向けた、半導体製造工程向けの最新検査装置を紹介いたします。

ウェーハ表面検査装置WMシリーズの最新モデル「WM-7SR+/WM-10R+」や、WLP向けバンプ検査で定評のある「ALTAXシリーズ」を更に進化させ、PLP向け角基板、ガラスコアにも対応可能な2D検査と3D検査を高度に融合したNew「ALTAX」 をご覧いただけます。

ぜひこの機会に弊社ブースへお立ち寄りいただき、最新モデルの性能や詳細な仕様を実際にご確認ください。
SEMICON Japan 2025 概要
開催日程    :2025年12月17日(水)~19日(金)
開催時間    :10:00~17:00
開催場所    :東京ビッグサイト
出展ブース番号 :西1-2 W1053
主催      :SEMIジャパン
公式HP:https://www.semiconjapan.org/jp

※ 事前登録で入場料無料となります。来場者事前登録サイトよりお申し込みください。
▽展示会招待券お申込み(無料)サイトはこちら
https://www.semiconjapan.org/jp/about/pricing-and-register
出展内容のご案内

ウェーハ表面検査装置 WM+シリーズ
[画像2: https://prcdn.freetls.fastly.net/release_image/49013/140/49013-140-b5a74fb5a6f3d8c55ffd48188f51e29f-2160x2160.png?width=536&quality=85%2C75&format=jpeg&auto=webp&fit=bounds&bg-color=fff ]
WM-10R+
[画像3: https://prcdn.freetls.fastly.net/release_image/49013/140/49013-140-46aa31ddf52ae47e58c3b8f3680db9d8-2160x2160.png?width=536&quality=85%2C75&format=jpeg&auto=webp&fit=bounds&bg-color=fff ]
WM-7SR+

半導体デバイスの製造、材料開発、装置管理に欠かせないウェーハ表面検査装置WMシリーズの最新モデル「WM-7SR+/WM-10R+」をリリースいたします。

WMシリーズはナノレベルのパーティクル(異物)検出が可能で、国内外の半導体メーカーや材料メーカーで広くご使用いただいております。光源には半導体レーザーを採用し、ランニングコストの低減にも貢献します。

WM-7SR+/WM-10R+ は国際的な安全認証を取得済みで、かつ構成部材の見直しを行い長期使用に対応した信頼性を確保。安心して長期間ご利用いただける設計となっております。

詳しくはこちらから
URL:https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/wm/

ウェーハ外観検査装置 Viシリーズ
[画像4: https://prcdn.freetls.fastly.net/release_image/49013/140/49013-140-ecbba3c87d14f5f1594314be2ef8bc67-473x505.png?width=536&quality=85%2C75&format=jpeg&auto=webp&fit=bounds&bg-color=fff ]
Vi-4207/Vi-4307
[画像5: https://prcdn.freetls.fastly.net/release_image/49013/140/49013-140-5f01badece820413602b1114e9d26655-473x505.png?width=536&quality=85%2C75&format=jpeg&auto=webp&fit=bounds&bg-color=fff ]
Vi-5301

ウェーハの配線パターンやクラック、異物混入などを高精度に検査します。ウェーハサイズ・デバイス・欠陥等の種類・検査速度に応じて、5種類のラインナップからご提案できます。

[画像6: https://prcdn.freetls.fastly.net/release_image/49013/140/49013-140-ca690a28f287f182d07aa5bb2dbc973e-1587x797.jpg?width=536&quality=85%2C75&format=jpeg&auto=webp&fit=bounds&bg-color=fff ]
Viシリーズ 検出欠陥例


詳しくはこちらから
URL:https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/pattern/


マイクロバンプ全面測定装置 ALTAX-300EX
[画像7: https://prcdn.freetls.fastly.net/release_image/49013/140/49013-140-d2e6aa6ac61a235227c8f530438a5138-3900x3900.jpg?width=536&quality=85%2C75&format=jpeg&auto=webp&fit=bounds&bg-color=fff ]
マイクロバンプ検査装置ALTAX-300EX

自社開発の高速カメラを搭載し、マイクロバンプの高さを高速で全数検査可能です。
独自アルゴリズムを搭載したハード処理とバンプ数に影響を受けない高速性を弊社ブースにてご確認ください。

詳しくはこちらから
URL:https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/altax-300ex/


2D 3D検査装置 ALTAX
[画像8: https://prcdn.freetls.fastly.net/release_image/49013/140/49013-140-a422c28df44980350ae0d0da021e8800-2625x2625.jpg?width=536&quality=85%2C75&format=jpeg&auto=webp&fit=bounds&bg-color=fff ]
2D 3D検査装置 ALTAX

業界最速3D検査に、2D外観検査を搭載。1台で2D+3D検査を網羅し、PKG基板のみならず、ガラス基板やウェハまで拡張可能。高スループットで品質とコストの両立を実現し、次世代ラインの多様なニーズに応えます。

詳しくはこちらから
URL:https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/altax/


フィルム外観検査装置Hawkeyesシリーズ
[画像9: https://prcdn.freetls.fastly.net/release_image/49013/140/49013-140-a53f275f9960a01bf33ddc779e696037-3900x2193.jpg?width=536&quality=85%2C75&format=jpeg&auto=webp&fit=bounds&bg-color=fff ]
無地高速微細画像検査装置システム Hawkeyes one

Hawkeyesシリーズは高機能フィルム市場(光学、電子部材、電池部材)に対して、自社製のカメラと画像処理ユニット、検査アルゴリズムを採用することで高速かつ高精度な検査を実現します。

自社製高性能カメラと新開発の画像処理ユニットの採用により、業界最速クラスの検査速度を実現しました。高速な生産ラインでの微細欠陥を検出するための高分解能の設定が可能です。また、複数処理を並列化し、多彩な欠陥検出も行えます。

詳しくはこちらから
URL:https://www.takano-kensa.com/kensa/products/film/one/


PSL粒子塗布ウェーハ
[画像10: https://prcdn.freetls.fastly.net/release_image/49013/140/49013-140-291b21c31bedde9ef33fefe25f6193e3-889x497.jpg?width=536&quality=85%2C75&format=jpeg&auto=webp&fit=bounds&bg-color=fff ]
PSL粒子 ※イメージ

半導体装置管理に欠かせない PSL粒子塗布ウェーハ は、検査装置の校正や評価に使用され、検出感度や精度の確保に重要な役割を果たします。粒径はご要望に応じて調整可能です。
製造プロセスの異物管理や装置性能維持、歩留まり向上に貢献します。詳細はタカノブースにてご相談ください。
タカノについて
「製造業から『創造業』へ」
ばねの製造に始まり、オフィス家具、エクステリア製品へ。そして先進のエレクトロニクス製品、さらには医療・福祉関連製品、臨床検査薬へとタカノは次々に新分野への参入を実現し、常に新しい製品の開発にチャレンジしてきました。この展開力こそがタカノの特色であり、発展の源です。
「常に高い志を持ち、社会のルールを守り、世の中の変化を見すえ、持続的成長・発展を通じ、豊かな社会の実現に貢献する」という経営基本理念にのっとり、これからもあらゆる角度から可能性を追求し、未踏の領域に挑戦していきます。

【会社概要】
会社名 : タカノ株式会社
東京証券取引所スタンダード市場上場(証券コード:7885)
所在地 : 長野県上伊那郡宮田村137
代表者 : 代表取締役社長 鷹野 雅央
創業  : 1941年7月1日
設立  : 1953年7月18日
URL   : https://www.takano-net.co.jp
事業内容: 事務用椅子、その他椅子等のオフィス家具、ばね、エクステリア製品、エレクトロニクス関連製品 (画像処理検査装置、電磁アクチュエータ)、医療・福祉機器の製造ならびに販売

プレスリリース提供:PR TIMES

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記事提供:PRTimes

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