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テスト・デバイセズが光学ひずみ測定サービスを発表

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2016年06月28日

米マサチューセッツ州ハドソン

（ビジネスワイヤ） -- テスト・デバイセズは、新しい光学ひずみ測定サービスを発表し、この測定技法を高速回転部品に適用します。

テスト・デバイセズの新サービスにより、お客さまは回転試験の際に部品全体のひずみデータを測定することができるようになりました。光学ひずみ測定では、数多くの個所の表面ひずみを同時に測定・記録することができます。収集データは独立のデータ資源として、または従来方式の測定データを補足するものとして使用できます。

テスト・デバイセズの会長でオーナーのH. Eric Sonnichsenは、次のように語っています。「新たに光学ひずみ測定を回転試験に応用できるようになったのは、計算能力や画像解析技法が進歩したおかげです。従来、光学ひずみ測定は固定部品に限定されていましたが、今やコンプレッサーやタービンのローターなどの高速回転部品にも応用でき、ひずみ場全体の非接触画像を取得できるようになりました。テスト・デバイセズは、多種多様な高速試験／生産アプリケーションにより、光学ひずみ測定を経済的な産業ソリューションとするために、改善を積み重ねています。」

光学ひずみ測定で得られる高価値のデータは、タービンのブレードやインペラーなど、小型の部品や複雑な部品の特性評価のために最適です。

従来の試験ではひずみゲージとリード線を固定することに伴ってコストと時間のかかるプロセスが必要でしたが、光学ひずみ測定は非接触技術であるため、こうしたプロセスがありません。光学ひずみ測定ではゲージ脱離がないため、データの質が落ちる可能性は低くなります。

この新技法は応用先が拡大します。サイトライン・ポートが確保できる場合、光学ひずみ測定装置は離れた位置、または測定室外に設置することができます。そのため、従来の試験ではゲージを損傷するような高温や過酷な環境など、極端な条件下の試験でもひずみ測定を行えるようになります。

光学ひずみ測定では、従来のひずみ測定技法では必然的であった推測作業を減らすことができます。光学システムで生成されるひずみ分布により、どのような部品変形でも、より詳細に完全な形でとらえることができます。

テスト・デバイセズについて

テスト・デバイセズは30年以上にわたり、研究開発試験、生産試験、試験装置のための優れた技術を提供する世界一流企業であり続けてきました。テスト・デバイセズは、ジェットエンジン、ガスタービン、 医療用遠心機、工作機械、産業用コンプレッサー、高速電気モーターなどの高速回転部品の開発企業や製造企業に対し、高度な回転試験サービスを提供しています。

www.testdevices.com

本記者発表文の公式バージョンはオリジナル言語版です。翻訳言語版は、読者の便宜を図る目的で提供されたものであり、法的効力を持ちません。翻訳言語版を資料としてご利用になる際には、法的効力を有する唯一のバージョンであるオリジナル言語版と照らし合わせて頂くようお願い致します。

businesswire.comでソースバージョンを見る：http://www.businesswire.com/news/home/20160628005760/ja/

連絡先

Press contacts:
van Schouwen Associates, LLC
Tyler Leahy, 413-567-8700 x104
tleahy@vsamarketing.com
または
Test Devices, Inc.
David Woodford, 978-562-4923
woodford@testdevices.com

記事提供：ビジネスワイヤ